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用超快I-V測試擴展器件的特性(英文)
To characterize a semiconductor device, material, or process technology completely, you need to be able to make precision DC I-V, AC impedance, and ultra-fast or transient I-V measurements. The latest upgrades to the Model 4200 characterization system del
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- 發布公司：吉時利
- 文件大小：384.33 Kb
- 更新時間：2010-09-27 16:31:02
- 官網：http://www.keithley.com.cn
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