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IV測試4200-SCS系統瀏覽
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows NT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。更多特性使stress-measure能力適合廣泛的可靠性測試。
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- 發布公司：keithley
- 文件大小：7726.69 Kb
- 更新時間：2010-02-04 13:07:59
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