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用微分電導測量分析納米級器件
隨著現代電子器件的尺寸不斷縮小，研究人員越來越多地依靠納米技術尋找器件尺寸和功耗的突破。在這些納米級器件中，電氣特性受量子特性的影響。例如，器件電阻通常不是恒定的，而且單次I-V測量不能實現器件電阻的分析。對于納米級器件，需要在許多點進行詳細測量以產生有效的I-V曲線，并繪制微分電導（dG = dI/dV）。
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- 更新時間：2009-12-29 18:06:36
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