大量設(shè)備都使用數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)來實(shí)現(xiàn)各種各樣的功能。高精度、電壓輸出DAC的常見應(yīng)用有儀器儀表、自動測試以及測試/測量設(shè)備。在這些應(yīng)用中,DAC產(chǎn)生直流電壓或任意波形。
對于這些電路,使用電壓輸出DAC進(jìn)行設(shè)計(jì)的最具挑戰(zhàn)的部分就是真實(shí)了解這種怪獸在其規(guī)定精度范圍之內(nèi)到底能夠跑多快。如果某款設(shè)備的時(shí)鐘頻率為50MHz,那么就電壓輸出更新速度來說,這意味著什么?或者,除了知道時(shí)鐘頻率之外,還需要更多信息嗎?
電壓輸出DAC采用FIFO方式,也就是先進(jìn)先出(圖1)。通常情況下,用戶將DAC的輸入數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)(DIN)裝載到DAC內(nèi)部串行輸入寄存器,而將之前的數(shù)據(jù)編碼鎖存到N位DAC。
圖1. 高精度、電壓輸出DAC的通用方框圖
LDAC(裝載DAC)引腳為高電平時(shí),串行數(shù)據(jù)流與SCLK(串行時(shí)鐘)配合,裝載DAC的串行輸入寄存器(圖2)。輸入寄存器填滿之后,LDAC低電平則將串行輸入寄存器裝載到N位數(shù)據(jù)鎖存器。LDAC再次變?yōu)楦唠娖剑M輸出電壓通過OUT引腳輸出并穩(wěn)定到最終值。在建立時(shí)間期間,串行輸入寄存器接收下一個編碼。?
圖2. 高精度、電壓輸出DAC的通用時(shí)序圖
理想情況下,DAC的理論吞吐速度等于SCLK/N,其中SCLK為外部時(shí)鐘速率,N為DAC的位數(shù)。例如,對于16位DAC,最大時(shí)鐘速率為50MHz,吞吐率為50MHz/16,即3.125MHz。?
這是很了不起的DAC吞吐率!然而,這是非常不現(xiàn)實(shí)的,特別是如果您將模擬輸出電壓設(shè)置為滿幅或滿擺幅輸出。在這種情況下,您需要時(shí)間使輸出穩(wěn)定到其滿幅值。?
建立時(shí)間決定一切
所以,我們還是回到現(xiàn)實(shí)吧。高精度應(yīng)用中的建立時(shí)間決定DAC的有效更新率,而不取決于時(shí)鐘的數(shù)據(jù)率。DAC的模擬輸出頻率結(jié)構(gòu)通常是一階的。對于較大的信號,很容易利用R/C電路建立這種響應(yīng)的模型。對于這種電路,可用以下公式描述模擬輸入/輸出行為。?
VOUT = VIN(1 – e-t/RC)? ? ? ?
?? ? ? ??
式1式中:?
VOUT???模擬輸出電壓
VIN???模擬輸入電壓
R ??DAC輸出電阻
C ? DAC輸出電容
圖3所示為DAC系統(tǒng)的模擬信號建立時(shí)間響應(yīng),包括死區(qū)時(shí)間、擺動及線性建立部分。
圖3. DAC的理論輸出建立時(shí)間
死區(qū)時(shí)間是DAC使用數(shù)據(jù)鎖存寄存器更新模擬輸出的時(shí)間。如果發(fā)生較大的模擬輸入階躍,DAC將進(jìn)入擺動區(qū)。在該信號響應(yīng)結(jié)束時(shí),最終值為理論最終值的±1/2 LSB。
DAC的數(shù)據(jù)手冊會列出建立時(shí)間指標(biāo)。以MAX5717 16位、50MHz、電壓輸出DAC為例,建立時(shí)間為0.75us。初看之下,會以為DAC的吞吐率為50MHz除以16,即2.33MHz。如果您將DAC的建立時(shí)間考慮在內(nèi),該DAC的實(shí)際吞吐率為建立時(shí)間的倒數(shù),即1.33MHz。
重要的工作優(yōu)先
大量使用DAC的設(shè)備都要求DAC行為實(shí)現(xiàn)最優(yōu)化,這取決于系統(tǒng)要求。對于儀器儀表、自動測試和測試/測量應(yīng)用,吞吐率是主要技術(shù)指標(biāo)。DAC精度性能的細(xì)節(jié)非常重要,但切記建立時(shí)間是使您能夠立即洞察DAC速度是否足夠滿足電路的最佳指標(biāo)。
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