EMI 調(diào)試實(shí)踐

愈加嚴(yán)格的EMI測(cè)試規(guī)范成為工程師在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：

· 高成本的第三方EMI測(cè)試

· 很難進(jìn)行EMI 整改的效果確認(rèn)

· 無(wú)法準(zhǔn)確定位EMI 的信號(hào)來(lái)源

 

泰克針對(duì)以上的這些難題，整理了EMI 的預(yù)一致性及整改方案，為工程師提供參考，方案中包含:

· EMI測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題

· EMI預(yù)一致性測(cè)試方法

· 如何利用混合域示波器進(jìn)行干擾的查找

如何快速準(zhǔn)確的定位性能驗(yàn)證中模擬信號(hào)的異常

在產(chǎn)品性能驗(yàn)證中，異常診斷是工程師面臨的最大挑戰(zhàn)，如何能夠快速準(zhǔn)確的定位異常問(wèn)題成為性能驗(yàn)證的關(guān)鍵。下載應(yīng)用文章，您將了解到如何迅速驗(yàn)證和調(diào)試數(shù)字信號(hào)和模擬信號(hào)的細(xì)節(jié):

 

模擬信號(hào)：

· 如何能夠快速發(fā)現(xiàn)異常模擬信號(hào)

· 如何快速定位及分析異常信號(hào)

 

數(shù)字信號(hào)：

· 如何設(shè)置數(shù)字門(mén)限

· 如何定時(shí)采集和狀態(tài)采集

使用混合信號(hào)示波器或混合域示波器調(diào)試數(shù)字電路的技巧

隨著電子產(chǎn)品速度越來(lái)越快、越來(lái)越復(fù)雜，其設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)和調(diào)試的難度也越來(lái)越大。設(shè)計(jì)人員必須全面檢驗(yàn)設(shè)計(jì)，才能保證產(chǎn)品可靠運(yùn)行。在發(fā)生問(wèn)題時(shí)，設(shè)計(jì)人員必需迅速了解根本原因，以便解決問(wèn)題。通過(guò)同時(shí)分析信號(hào)的模擬表示方式和數(shù)字表示方式，許多數(shù)字問(wèn)題的根本原因都可以迎刃而解， 因此， 混合信號(hào)示波器(MSO)為檢驗(yàn)和調(diào)試數(shù)字電路提供了理想的解決方案。

 

下載應(yīng)用文章，您將獲得的內(nèi)容：

怎樣使用 MSO 和 MDO 系列示波器的基本邏輯分析儀功能迅速驗(yàn)證和調(diào)試數(shù)字電路。

使用泰克混合信號(hào)示波器調(diào)試混合信號(hào)嵌入式設(shè)計(jì)

嵌入式設(shè)計(jì)中會(huì)遇到各種復(fù)雜的問(wèn)題，但混合信號(hào)調(diào)試這朵“奇葩”，讓許多使用傳統(tǒng)測(cè)量方法的工程師畏懼。

 

微處理器、FPGA、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC) 等集成電路給當(dāng)前嵌入式設(shè)計(jì)帶來(lái)了獨(dú)特的測(cè)量挑戰(zhàn)。工程師可能需要解碼兩個(gè)IC 之間的SPI 總線，同時(shí)在同一塊系統(tǒng)電路板上觀察ADC 的輸入和輸出。

 

下載應(yīng)用文章會(huì)為大家解答：

· 嵌入式設(shè)計(jì)中如何同時(shí)調(diào)試多個(gè)串行協(xié)議

· 根據(jù)您的測(cè)試需求如何選擇合適的測(cè)試工具